激光光電探測(cè)系統(tǒng)線性性能檢測(cè)

激光光電探測(cè)系統(tǒng)線性性能檢測(cè)裝置于透射式和折反式導(dǎo)引頭探測(cè)器彌散圓調(diào)試與導(dǎo)引頭光電線性區(qū)測(cè)試。

檢測(cè)紅外器件光敏面大小、均勻性、多元器件的*性及串音情況。這對(duì)于提高紅外系統(tǒng)特別是以探測(cè)器為視場(chǎng)光闌的系統(tǒng)搜索和跟蹤精度,提高成像系統(tǒng)的清晰度都具有重要意義。紅外小光點(diǎn)系統(tǒng)首先要檢測(cè)光斑彌散圓大小,才能投入使用。迄今為止,幾乎所有的紅外光學(xué)系統(tǒng)的裝校和檢測(cè)都是在可見光譜區(qū)進(jìn)行。這就要求光學(xué)系統(tǒng)只能設(shè)計(jì)成反射系統(tǒng)。隨著紅外儀器發(fā)展,紅外透鏡已經(jīng)被采用;在反射系統(tǒng)中常常要加紅外波段濾光片;中紅外以上的探測(cè)器往往都帶有透紅外而不透可見光的窗口。帶有這些光學(xué)零件的紅外系統(tǒng),裝調(diào)和檢測(cè)不能在可見光譜區(qū)進(jìn)行。

激光光電探測(cè)系統(tǒng)線性性能檢測(cè)技術(shù)規(guī)格